发明名称 Herstellungsverfahren für eine Halbleiterstruktur in einem Substrat, wobei die Halbleiterstruktur mindestens zwei unterschiedlich zu strukturierende Bereiche aufweist
摘要 Die vorliegende Erfindung schafft ein Herstellungsverfahren für eine Halbleiterstruktur (1) in einem Substrat (2), wobei die Halbleiterstruktur (1) mindestens zwei unterschiedlich zu strukturierende Bereiche (3, 4) aufweist. Nach einem Herstellen eines strukturierten ersten Bereiches (3) in dem Substrat (2), sodass die Halbleiterstruktur (1) einen nicht strukturierten zweiten Bereich (4) und den strukturierten ersten Bereich (3) aufweist, folgt ein Abscheiden einer Deckelschicht (5), welche über den strukturierten ersten Bereich (3) wächst, sodass die Deckelschicht (5) über dem strukturierten ersten Bereich (3) einen Verschluss (6) ausbildet, der den strukturierten ersten Bereich (3) zudeckelt. Daraufhin folgt ein Herstellen des strukturierten zweiten Bereiches (4), wobei der strukturierte erste Bereich (3) wenigstens von dem Verschluss (6) der Deckelschicht (5) geschützt bleibt. Abschließend erfolgt ein Entfernen der Deckelschicht (5) über der Halbleiterstruktur (1), welche nun zwei unterschiedlich strukturierte Bereiche (3, 4) aufweist.
申请公布号 DE102004008497(A1) 申请公布日期 2005.09.08
申请号 DE200410008497 申请日期 2004.02.20
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 OFFENBERG, DIRK;VOGT, MIRKO;HARTMANN, STEPHAN
分类号 G03F1/08;H01L21/768;H01L21/8238;H01L21/8242;(IPC1-7):H01L21/824 主分类号 G03F1/08
代理机构 代理人
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