发明名称 | 图案化光阻层的形成方法及其制造机台 | ||
摘要 | 一种图案化光阻层的形成方法,适于形成与一膜层对准之一图案化光阻层,此图案化光阻层的形成方法包括下列步骤:(a)于一基材上形成一光阻层;(b)对光阻层进行曝光:(c)量测光阻层的曝光位置与上述膜层之间的一重叠误差;(d)根据重叠误差判断光阻层的曝光位置是否适当;以及(e)当光阻层的曝光位置适当时,对光阻层进行显影。另外,一种图案化光阻层的制造机台亦被提出,其利用上述之形成方法来即时回授重叠量测结果,以减少图案化光阻层的制造时间以及重工时间。 | ||
申请公布号 | TW200529305 | 申请公布日期 | 2005.09.01 |
申请号 | TW093103857 | 申请日期 | 2004.02.18 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 林陵杰;吴得鸿;黄国俊 |
分类号 | H01L21/30 | 主分类号 | H01L21/30 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |