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发明名称
制造快闪记忆体装置之方法
摘要
本发明揭示一种制造快闪记忆体装置的方法,该方法可藉由浮动闸极之杂质扩散来最小化一电洞电流,藉由增加崩溃电压来获得足够的记忆胞运作电容,并且藉由在一当做浮动闸极之多晶矽膜上形成一氧化物膜、掺杂一杂质至该氧化物膜中以及退火处理该氧化物膜,以在介于该氧化物膜与该多晶矽膜之间的界面上填满该杂质,据此改良一快闪记忆胞的资料保留能力属性。
申请公布号
TW200529381
申请公布日期
2005.09.01
申请号
TW093119254
申请日期
2004.06.30
申请人
海力士半导体股份有限公司
发明人
朱光
分类号
H01L21/8247
主分类号
H01L21/8247
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
韩国
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