发明名称 制造半导体装置之方法
摘要 一种形成半导体储存元件的方法,该方法包括下列步骤:在一氧化环境中将掺杂物以离子植入一半导体基底中,以形成一扩散区;以及形成复数个记忆体单元,其中各记忆体单元分别具有一金氧半导体(MOS)电晶体,各金氧半导体电晶体分别包括以扩散区形成之源极与汲极。
申请公布号 TW200529378 申请公布日期 2005.09.01
申请号 TW094102075 申请日期 2005.01.21
申请人 尔必达存储器股份有限公司 发明人 小此木坚佑;大汤静宪
分类号 H01L21/8239 主分类号 H01L21/8239
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本