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发明名称
半导体装置、封环结构及其制作方法
摘要
一种封环结构之制作方法。封环结构中之金属封环系为沿着一晶粒之周边所形成之连续结构,藉此金属封环包覆复数装置结构,并且金属封环系平行于晶粒之边缘,同时于晶粒之角落上之金属封环系呈倾斜状,如此于金属封环上便不会产生尖锐角落。于沿着金属封环之复数边缘具有一第一宽度,于金属封环之角落具有一第二宽度,其中,第一宽度大于第二宽度。
申请公布号
TW200529283
申请公布日期
2005.09.01
申请号
TW093117894
申请日期
2004.06.21
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
黄泰钧;纪冠守;姚志翔
分类号
H01L21/00
主分类号
H01L21/00
代理机构
代理人
洪澄文;颜锦顺
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
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