发明名称 一种专利技术之监价系统与监价方法
摘要 一种专利技术之监价系统,系以不同产业类别之研发价值、专利价值、与该专利技术之专利指标等相关数据作为基础,用以产生该专利技术之预估价值,该监价系统包含:一第一资料库,该第一资料库用以储存一参考公司群中每一公司在不同时间点之股票交易价格;一第二资料库,该第二资料库用以储存该参考公司群中每一公司在不同时间点之净资产价值;一无形资产计算装置,该无形资产装置可因应该参考公司群中每一公司在不同时间点之该股票交易价格与该参考公司群中每一公司在不同时间点之该净资产价值,用以产生该参考公司群中每一公司在不同时间点之一组无形资产预估值;一系数产生装置,该系数产生装置可因应一第一预定条件,将该参考公司群区分成n个比较群,该系数产生装置并因应该n个比较群与因应该参考公司群中每一公司在不同时间点之该组无形资产预估值,用以产生该n个比较群中每一比较群之一组价值参考系数;一输入装置,该输入装置可供输入该专利技术达到量产化时所需要之一预定时间与一预定成本;一分析装置,该分析装置可将该专利技术对应到该n个比较群中之一对应比较群,该分析装置并可因应该预定时间、该预定成本与该对应比较群之该组价值参考系数,用以产生该专利技术之一经济价值;一第三资料库,该第三资料库用以储存该专利技术之一组专利指标与该专利技术所对应之一组专利参考群之一组专利统计参考系数;以及一专利价值产生装置,该专利价值产生装置可因应该专利技术之该经济价值、该组专利指标与该组专利统计参考系数,用以产生该专利技术之该预估价值。
申请公布号 TWI238954 申请公布日期 2005.09.01
申请号 TW090116906 申请日期 2001.07.10
申请人 陈威霖;康铭元 KANG, MING YUAN 高雄市三民区市中一路384巷40号;陶霖 台北县中和市民德路54号14楼 发明人 陈威霖
分类号 G06F17/60 主分类号 G06F17/60
代理机构 代理人 陶霖 台北县中和市中正路738号11楼之5
主权项 1.一种专利技术的监价系统,用以提供该专利技术的一预估价値,该监价系统包含:一第一资料库,该第一资料库用以储存一参考公司群中每一公司在不同时间点之股票交易价格;一第二资料库,该第二资料库用以储存该参考公司群中每一公司在不同时间点之净资产价値;一无形资产计算装置,该无形资产装置可因应该参考公司群中每一公司在不同时间点之该股票交易价格与该参考公司群中每一公司在不同时间点之该净资产价値,用以产生该参考公司群中每一公司在不同时间点之一组无形资产预估値;一系数产生装置,该系数产生装置可因应一第一预定条件,将该参考公司群区分成n个比较群,该系数产生装置并因应该n个比较群与因应该参考公司群中每一公司在不同时间点之该组无形资产预估値,用以产生该n个比较群中每一比较群之一组价値参考系数;一输入装置,该输入装置可供输入该专利技术进行量产前所需要之一预定时间与一预定成本;一分析装置,该分析装置可将该专利技术对应到该n个比较群中之一对应比较群,该分析装置并可因应该预定时间、该预定成本与该对应比较群之该组价値参考系数,用以产生该专利技术之一经济价値;一第三资料库,该第三资料库用以储存该专利技术之一组专利指标与该专利技术所对应之一组专利参考群之一组专利统计参考系数;以及一专利价値产生装置,该专利价値产生装置可因应该专利技术之该经济价値、该组专利指标与该组专利统计参考系数,用以产生该专利技术之该预估价値。2.如申请专利范围第1项之专利技术的监价系统,其中该无形资产计算装置所产生之该参考公司群中每一公司之该组无形资产预估値可包含一无形价値、一研发价値、或一专利价値。3.如申请专利范围第2项之专利技术的监价系统,其中该第一预定条件系产业类别或产品类别。4.如申请专利范围第3项之专利技术的监价系统,其中该对应比较群之该组价値参考系数包含一研发价値平均値与一研发价値第一标准差,而该分析装置所产生该专利技术之该经济价値可表示为:EV1=RV.N(d1)-(E/erT).N(d2);其中,EV1表示该专利技术之该经济价値,RV表示该对应比较群之该研发价値平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(RV/E)+rT)/() + 0.5. ,d2=d1- ,表示该对应比较群之该研发价値第一标准差。5.如申请专利范围第3项之专利技术的监价系统,其中其中该对应比较群之该组价値参考系数包含一专利价値平均値与一专利价値第一标准差,而该分析装置所产生该专利技术之该经济价値可表示为:EV2=PV.N(d1)-(E/erT).N(d2);其中,EV2表示该专利技术之该经济价値,PV表示该对应比较群之该专利价値平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(PV/E)+rT)/()+0.5. ,d2=d1- ,表示该对应比较群之该专利价値第一标准差。6.如申请专利范围第3项之专利技术的监价系统,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一无形价値加权平均値与一无形价値第二标准差,而该分析装置所产生该专利技术之该经济价値可表示为:EV3=WIN.N(d1)-(E/erT).N(d2);其中,EV3表示该专利技术之该经济价値,WIV表示该对应比较群之该无形价値加权平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(WIV/E)+rT)/( )+0.5. ,d2=d1- ,表示该对应比较群之该无形价値第二标准差。7.如申请专利范围第3项之专利技术的监价系统,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一研发价値加权平均値与一研发价値第二标准差,而该分析装置所产生该专利技术之该经济价値可表示为:EV4=WIN.N(d1)-(E/erT).N(d2);其中,EV4表示该专利技术之该经济价値,WRV表示该对应比较群之该研发价値加权平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(WRV/E)+rT)/( )+0.5. ,d2=d1- ,表示该对应比较群之该研发价値第二标准差。8.如申请专利范围第3项之专利技术的监价系统,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一专利价値加权平均値与一专利价値第二标准差,而该分析装置所产生该专利技术之该经济价値系可表示为:EV5=WIN.N(d1)-(E/erT).N(d2);其中,EV5表示该专利技术之该经济价値,WPV表示该对应比较群之该专利价値加权平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(WRV/E)+rT)/( )+0.5. ,d2=d1- ,表示该对应比较群之该专利价値第二标准差。9.如申请专利范围第3项之专利技术的监价系统,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一无形价値平均値、一无形价値第一标准差、一研发价値平均値与一研发价値第一标准差,而该专利技术之该经济价値系小于EV且大于等于EV1,其中EV=IV.N(d1)-(E/erT).N(d2),EV1=RV.N(d3)-(E/erT).N(d4),而IV表示该对应比较群之该无形价値平均値,RV表示该对应比较群之该研发价値平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(IV/E)+rT)/(1 )+0.5.1 ,d2=d1-1 ,1表示该对应比较群之该无形价値第一标准差,N(d3)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,N(d4)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,而d3=(1n(RV/E)+rT)/(2 )+0.5.2 ,d4=d3-2 ,2表示该对应比较群之该研发价値第一标准差。10.如申请专利范围第3项之专利技术的监价系统,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一研发价値平均値、一研发价値第一标准差、一专利价値平均値与一专利价値第一标准差,而该专利技术之该经济价値系小于EV1且大于等于EV2,其中EV1=RV.N(d1)-(E/erT).N(d2),EV2=PV.N(d3)-(E/erT).N(d4),而RV表示该对应比较群之该研发价値平均値,PV表示该对应比较群之该专利价値平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(RV/E)+rT)/(1 )+0.5.1 ,d2=d1-1 ,1,表示该对应比较群之该研发价値第一标准差,N(d3)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,N(d4)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,而d3=(1n(PV/E)+rT)/(2 )+0.5.2 ,d4=d3-2 ,2表示该对应比较群之该专利价値第一标准差。11.如申请专利范围第3项之专利技术的监价系统,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一无形价値加权平均値、一无形价値第二标准差、一研发价値加权平均値与一研发价値第二标准差,而该专利技术之该经济价値系小于EV3大于等于EV4,其中EV3=WIV.N(d1)-(E/erT).N(d2),EV4=WRV.N(d3)-(E/erT).N(d4),而WIN表示该对应比较群之该无形价値加权平均値,WRV表示该对应比较群之该研发价値加权平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(WIV/E)+ rT) / (1 )+0.5.1,d2 = d1-1 ,1表示该对应比较群之该无形价値第二标准差,N(d3)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,N(d4)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,而d3=(1n(WRV/E)+rT)/(2 )+0.5.2 ,d4=d3-2 ,2表示该对应比较群之该研发价値第二标准差。12.如申请专利范围第3项之专利技术的监价系统,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一研发价値加权平均値、一研发价値第二标准差、一专利价値加权平均値与一专利价値第二标准差,而该专利技术之该经济价値系小于EV4大于等于EV5,其中EV4=WRV.N(d1)-(E/erT).N(d2),EV5=WPV.N(d3)-(E/erT).N(d4),而WRV表示该对应比较群之该研发价値加权平均値,WPV表示该对应比较群之该专利价値加权平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(WRV/E)+rT)/(1 )+0.5.1 ,d2 = d1-1 ,1表示该对应比较群之该研发价値第二标准差,N(d3)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,N(d4)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,而d3=(1n(WPV/E)+rT)/(2 )+0.5.2 ,d4=d3-2 ,2表示该对应比较群之该专利价値第二标准差。13.如申请专利范围第4,5,6,7,8,9,10,11,12项之专利技术的监价系统,其中该专利技术所对应之该组专利参考群可以利用该专利技术所属之国际分类码(IPC)、美国分类码(UPC)、或日本分类码(F-term)界定之。14.如申请专利范围第13项之专利技术的监价系统,其中该专利技术之该组专利指标包含现时影响指数,技术生命周期,或科学关联性。15.如申请专利范围第14项之专利技术的监价系统,其中该专利技术所对应之该组专利参考群之该组专利统计参考系数可包含该专利参考群之所有专利之现时影响指数的平均値、现时影响指数的最高値、现时影响指数的最低値、技术生命周期的平均値、技术生命周期的最高値、技术生命周期的最低値、科学关联性的平均値、科学关联性的最高値或科学关联性的最低値。16.如申请专利范围第15项之专利技术的监价系统,该预估价値可以表示成:PEV=该专利技术之该经济价値其中其中PEV表示该专利技术之该预估价値,n表示该组专利指标所包含之指标数目,其値至少为1,yi表示该组专利指标中第i个专利指标除以该组专利统计参考系数中该第i个专利指标所相对应之一统计参考系数,i表示该第i个专利指标所对应之一比例系数,ri表示该第i个专利指标所对应之一指数。17.如申请专利范围第16项之专利技术的监价系统,其中该专利技术之该预估价値系利用蒙地卡罗法产生。18.一种专利技术的监价方法,用以提供该专利技术的一预估价値,该监价方法包含下列步骤:1)储存一参考公司群中每一公司在不同时间点之股票交易价格;2)储存该参考公司群中每一公司在不同时间点之净资产价値;3)因应该参考公司群中每一公司在不同时间点之该股票交易价格与该参考公司群中每一公司在不同时间点之该净资产价値,用以产生该参考公司群中每一公司在不同时间点之一组无形资产预估値;4)因应一第一预定条件,将该参考公司群区分成n个比较群;5)因应该n个比较群与因应该参考公司群中每一公司在不同时间点之该组无形资产预估値,用以产生该n个比较群中每一比较群之一组价値参考系数;6)输入该专利技术达到量产化时所需要之一预定时间与一预定成本;7)将该专利技术对应到该n个比较群中之一对应比较群;8)因应该预定时间、该预定成本与该对应比较群之该组价値参考系数,用以产生该专利技术之该经济价値;9)储存该专利技术之一组专利指标与该专利技术所对应之一组专利参考群之一组专利统计参考系数;以及10)因应该专利技术之该经济价値、该组专利指标与该组专利统计参考系数,用以产生该专利技术之该预估价値。19.如申请专利范围第18项之专利技术的监价方法,其中该参考公司群中每一公司之该组无形资产预估値可包含一无形价値、一研发价値、或一专利价値。20.如申请专利范围第19项之专利技术的监价方法,其中该第一预定条件系产业类别或产品类别。21.如申请专利范围第20项之专利技术的监价方法,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一研发价値平均値与一研发价値第一标准差,而该分析装置所产生该专利技术之该经济价値可表示为:EV1=RV.N(d1)-(E/erT).N(d2);其中,EV1表示该专利技术之该经济价値,RV表示该对应比较群之该研发价値平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(RV/E)+rT)/()+0.5. ,d2=d1- ,表示该对应比较群之该研发价値第一标准差。22.如申请专利范围第20项之专利技术的监价方法,其中其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一专利价値平均値与一专利价値第一标准差,而该分析装置所产生该专利技术之该经济价値可表示为:EV2=PV.N(d1)-(E/erT).N(d2);其中,EV2表示该专利技术之该经济价値,PV表示该对应比较群之该专利价値平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(PV/E)+rT)/()+0.5. ,d2=d1- ,表示该对应比较群之该专利价値第一标准差。23.如申请专利范围第20项之专利技术的监价方法,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一无形价値加权平均値与一无形价値第二标准差,而该分析装置所产生该专利技术之该经济价値可表示为:EV3=WIV.N(d1)-(E/erT).N(d2);其中,EV3表示该专利技术之该经济价値,WIV表示该对应比较群之该无形价値加权平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(WIV/E)+rT)/( )+0.5. ,d2=d1- ,表示该对应比较群之该无形价値第二标准差。24.如申请专利范围第20项之专利技术的监价方法,其中该对应比较群之该组价値参考系数包含一研发价値加权平均値与一研发价値第二标准差,而该分析装置所产生该专利技术之该经济价値可表示为:EV4=WRV.N(d1)-(E/erT).N(d2);其中,EV4表示该专利技术之该经济价値,WRV表示该对应比较群之该研发价値加权平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(WRV/E)+rT)/( )+0.5. ,d2=d1- ,表示该对应比较群之该研发价値第二标准差。25.如申请专利范围第20项之专利技术的监价方法,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一专利价値加权平均値与一专利价値第二标准差,而该分析装置所产生该专利技术之该经济价値系可表示为:EV5=WPV.N(d1)-(E/erT).N(d2);其中,EV5表示该专利技术之该经济价値,WPV表示该对应比较群之该专利价値加权平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(WPV/E)+rT)/( )+0.5. ,d2=d1- ,表示该对应比较群之该专利价値第二标准差。26.如申请专利范围第20项之专利技术的监价方法,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一无形价値平均値、一无形价値第一标准差、一研发价値平均値与一研发价値第一标准差,而该专利技术之该经济价値系小于EV且大于等于EV1,其中EV=IV.N(d1)-(E/erT).N(d2),EV1=RV.N(d3)-(E/erT).N(d4),而IV表示该对应比较群之该无形价値平均値,RV表示该对应比较群之该研发价値平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(ln(IV/E)+rT)/(1 )+0.5.1 ,d2=d1-1 ,1表示该对应比较群之该无形价値第一标准差,N(d3)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,N(d4)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,而d3=(1n(RV/E)+rT)/(2 )+0.5.2 ,d4=d3-2 ,2表示该对应比较群之该研发价値第一标准差。27.如申请专利范围第20项之专利技术的监价方法,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一研发价値平均値、一研发价値第一标准差、一专利价値平均値与一专利价値第一标准差,而该专利技术之该经济价値系小于EV1且大于等于EV2,其中EV1=RV.N(d1)-(E/erT).N(d2),EV2=PV.N(d3)-(E/erT).N(d4),而RV表示该对应比较群之该研发价値平均値,PV表示该对应比较群之该专利价値平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(RV/E)+rT)/(1 )+0.5.1 ,d2=d1-1 ,1表示该对应比较群之该研发价値第一标准差,N(d3)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,N(d4)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,而d3=(1n(PV/E)+rT)/(2 )+0.5.2 ,d4=d3-2 ,2表示该对应比较群之该专利价値第一标准差。28.如申请专利范围第20项之专利技术的监价方法,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一无形价値加权平均値、一无形价値第二标准差、一研发价値加权平均値与一研发价値第二标准差,而该专利技术之该经济价値系小于EV3大于等于EV4,其中EV3=WIV.N(d1)-(E/erT).N(d2),EV4=WRV.N(d3)-(E/erT).N(d4),而WIV表示该对应比较群之该无形价値加权平均値,WRV表示该对应比较群之该研发价値加权平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(WIV/E)+rT)/(1 )+0.5.1 ,d2=d1-1 ,1表示该对应比较群之该无形价値第二标准差,N(d3)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,N(d4)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,而d3=(1n(WRV/E)+rT)/(2 )+0.5.2 ,d4=d3-2 ,2表示该对应比较群之该研发价値第二标准差。29.如申请专利范围第20项之专利技术的监价方法,其中该对应比较群之该组价値参考系数可包含一研发价値加权平均値、一研发价値第二标准差、一专利价値加权平均値与一专利价値第二标准差,而该专利技术之该经济价値系小于EV4大于等于EV5,其中EV4=WRV.N(d1)-(E/erT).N(d2),EV5=WPV.N(d3)-(E/erT).N(d4),而WRV表示该对应比较群之该研发价値加权平均値,WPV表示该对应比较群之该专利价値加权平均値,E表示该该专利技术达到量产化时所需要之该预定成本,T表示该专利技术达到量产化时所需要之该预定时间,e表示一自然指数,r表示一预定利率,N(d1)表示一累积标准正规分布函数在d1时之数値,N(d2)表示该累积标准正规分布函数在d2时之数値,而d1=(1n(WRV/E)+rT)/(1 )+0.5.1 ,d2=d1-1 ,1表示该对应比较群之该研发价値第二标准差,N(d3)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,N(d4)表示该累积标准正规分布函数在d3时之数値,而d3=(1n(WPV/E)+rT)/(2 )+0.5.2 ,d4=d3-2 ,2表示该对应比较群之该专利价値第二标准差。30.如申请专利范围第21、22、23、24、25、26、27、28或29项之专利技术的监价方法,其中该专利技术所对应之该组专利参考群可以利用该专利技术所属之国际分类码(IPC)、美国分类码(UPC)、或日本分类码(F-term)界定之。31.如申请专利范围第30项之专利技术的监价方法,其中该专利技术之该组专利指标包含现时影响指数,技术生命周期,或科学关联性。32.如申请专利范围第31项之专利技术的监价方法,其中该专利技术所对应之该组专利参考群之该组专利统计参考系数可包含该专利参考群之所有专利之现时影响的数的平均値、现时影响指数的最高値、现时影响指数的最低値、技术生命周期的平均値、技术生命周期的最高値、技术生命周期的最低値、科学关联性的平均値、科学关联性的最高値或科学关联性的最低値。33.如申请专利范围第32项之专利技术的监价方法,该预估价値可以表示成:PEV=该专利技术之该经济价値其中其中PEV表示该专利技术之该预估价値,n表示该组专利指标所包含之指标数目,其値至少为1,yi表示该组专利指标中第i个专利指标除以该组专利统计参考系数中该第i个专利指标所相对应之一统计参考系数,i表示该第i个专利指标所对应之一比例系数,ri表示该第i个专利指标所对应之一指数。34.如申请专利范围第33项之专利技术的监价方法,其中该专利技术之该预估价値系利用蒙地卡罗法产生。图式简单说明:第一图系绘示本发明之专利技术监价系统的架构图。第二图(a)表示某一比较群在不同时间点之无形价値的第一次平均数値曲线图。第二图(b)即是表示某一比较群在不同时间点之研发价値的第一次平均数値曲线图。第二图(c)即是表示某一比较群在不同时间点之专利价値的第一次平均数値曲线图。第三图系绘示美国专利在电脑产业与汽车产业,其现时影响指数、技术生命周期与科学关联性的平均値。第四图系绘示本发明之专利技术监价方法的流程图。
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