使用井偏压修正的积体电路测试方法

摘要

测试一半导体电路(10)的方法，包含测试电路及在测试中修正电路之井偏压(14、18)。这些方法藉由在测试中修正井偏压，增进了电压式和静态漏电流(IDDQ)测试及分析的解析度。此外，这些方法提供了在加压测试中更有效率加压。这些方法应用在积体电路中，其中半导体井(井及／或基底)是分别连接到晶片电源电压(VDD)和接地(GND)，允许在测试中从外部控制(40)井电位。一般来说，这些方法依靠使用井偏压来改变电晶体临界电压。