| 发明名称 |
System and method for analyzing wavefront aberrations |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU2005215056(A1) |
申请公布日期 |
2005.09.01 |
| 申请号 |
AU20050215056 |
申请日期 |
2005.02.22 |
| 申请人 |
OPHTHONIX, INC. |
发明人 |
ANDREAS W. DREHER;SHUI T. LAI |
| 分类号 |
B29D11/00;A61B3/00;A61B3/10;B24B13/00;G02C13/00 |
主分类号 |
B29D11/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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