| 发明名称 | 用于校准测量装置的校准量规以及校准测量装置的方法 | ||
| 摘要 | 用于校准测量装置的校准量规，它的校准尺度可通过它的内尺寸进行测量，也可通过外尺寸进行测量，因此可使该校准尺度小于15毫米，甚至用于校准安装了探针头大于该尺寸的测量装置。依赖这样一校准量规的该校准方法在某种特定情况下包括测量一凸出量的两个外表面之间的该校准测量。 | ||
| 申请公布号 | CN1217249C | 申请公布日期 | 2005.08.31 |
| 申请号 | CN02151590.5 | 申请日期 | 2002.12.11 |
| 申请人 | 特莎有限公司 | 发明人 | P·乔尔迪尔;A·扎尼尔;C·－H·祖菲里 |
| 分类号 | G05B19/401;G01B3/30 | 主分类号 | G05B19/401 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 黄力行 |
| 主权项 | 1.具有至少一个校准尺度(d)用于校准一测量装置的一给定参考系的校准量规，其特征在于：所述至少一个校准尺度(d)可通过测量一校准叉(10)的该内表面(11，12)之间的距离进行测量，也可通过测量一凸出量(13)的该两个外表面(14，15)之间的距离进行测量。 | ||
| 地址 | 瑞士雷伦斯 | ||