Automatic test pattern generation for functional register transfer level circuits using assignment decision diagrams,申请号EP20010304884-传众专利搜索

发明名称	Automatic test pattern generation for functional register transfer level circuits using assignment decision diagrams
摘要
申请公布号	EP1162472(B1)	申请公布日期	2005.08.31
申请号	EP20010304884	申请日期	2001.06.04
申请人	FUJITSU LIMITED	发明人	GHOSH, INDRADEEP
分类号	G01R31/3183;G06F11/22;G06F11/25;G06F17/50;(IPC1-7):G01R31/318;G06F11/263	主分类号	G01R31/3183
代理机构		代理人
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