发明名称 | 多级闪存设备与编程方法 | ||
摘要 | 公开了一种多级闪存设备和编程方法。该多级闪存设备包括:多个存储单元,每个单元存储指示多于两个可能状态的电荷量;以及连接到存储单元的控制电路。该控制电路将编程电压与校验电压交替地施加到所述存储单元,直到所有单元处于期望的状态,并且施加至少一个额外的编程电压到处于最高状态的单元,而不施加校验电压。该方法包括:施加至少一个编程脉冲到单元;校验每个单元已达到期望的状态;选择被编程到最高状态的单元;并施加至少一个额外的编程脉冲到所选择的单元,而不进一步校验这些单元的状态。 | ||
申请公布号 | CN1661727A | 申请公布日期 | 2005.08.31 |
申请号 | CN200510052527.X | 申请日期 | 2005.02.28 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 朴东镐;李升根 |
分类号 | G11C16/10;G11C16/34 | 主分类号 | G11C16/10 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 黄小临;王志森 |
主权项 | 1.一种用于将多个存储单元编程到期望状态的方法,每个单元具有多于两个的可能状态,该方法包括:施加至少一个编程脉冲到所述单元;校验每个单元已达到期望状态;选择被编程到最高状态的单元;并且施加至少一个额外编程脉冲到所选择的单元,而不进一步校验这些单元的状态。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |