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发明名称
System and Method for Measuring Transmittances of Special Coating Film According to Wavelength
摘要
申请公布号
KR100511367(B1)
申请公布日期
2005.08.30
申请号
KR20030029712
申请日期
2003.05.12
申请人
发明人
分类号
G01N21/41;(IPC1-7):G01N21/41
主分类号
G01N21/41
代理机构
代理人
主权项
地址
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