| 发明名称 |
DEVICE FOR INSPECTING AND ROTATING ELECTRONIC COMPONENTS |
| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Überprüfen und Umdrehen elektronischer Bauelemente, insbesondere Flipchips, mit einem an einem Drehpunkt (17) drehbar gelagerten Bauteil (14) zum Umdrehen der elektronischen Bauelemente, wobei an dem Bauteil (14) außenseitig ein erstes Aufnahmeelement (19) zum Aufnehmen eines einzelnen elektronischen Bauelementes von einem Träger (14) und dessen Festhalten während einer Drehbewegung (15, 16; 15a) des Bauteils (14) befestigt ist, wobei ein zweites Aufnahmeelement (20) dem ersten Aufnahmeelement (19) bezüglich dem Drehpunkt (17) gegenüberliegend derart außenseitig an dem Bauteil (14) angeordnet ist, dass jeweils ein Aufnahmeelement (19, 20) bei jeder Drehung (15,16) des Bauteils (14) um 180° dem Träger (11) zugewandt ist, und dass in dem Bauteil (14) zwischen den Aufnahmeelementen (19, 20) eine Durchgangsöffnung (28) derart angeordnet ist, dass die Durchgangsöffnung (28) bei einer Drehung (15,16) des Bauteils (14) um 90° oder 270° dem Träger (11) zugewandt ist. Es wird ein Verfahren zum Überprüfen und Umdrehen elektronischer Bauelemente, insbesondere Flipchips beschrieben.</p> |
| 申请公布号 |
WO2005078768(A1) |
申请公布日期 |
2005.08.25 |
| 申请号 |
WO2005EP50388 |
申请日期 |
2005.01.31 |
| 申请人 |
MUEHLBAUER AG;NIKLAS, SIGMUND;GLAS, RENE;BRANDL, MANFRED;BRANDL, FRANZ |
发明人 |
NIKLAS, SIGMUND;GLAS, RENE;BRANDL, MANFRED;BRANDL, FRANZ |
| 分类号 |
H01L21/00;H01L21/68;(IPC1-7):H01L21/00 |
主分类号 |
H01L21/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
