| 发明名称 | 用于经由单个测试访问端口访问多个测试访问端口的方法与控制电路 | ||
| 摘要 | 在一个实施例中，使用一个或多个可重用模块(14，16)的集成电路(10)可以使用由重复状态机(26，28)或未修正的状态机(20，22)生成的签名来选择、控制、或影响集成电路(10)上的资源，其中影响资源不是未修正的状态机(20，22)的原始设计和状态图的部分。在一个实施例中，提供了用于动态重新配置在IC(10)上可重用模块(14，16)中的多个测试电路而不用修正在可重用模块(14，16)中的控制器状态机(20，22)的方法和装置。 | ||
| 申请公布号 | CN1656386A | 申请公布日期 | 2005.08.17 |
| 申请号 | CN03812402.5 | 申请日期 | 2003.05.09 |
| 申请人 | 飞思卡尔半导体公司 | 发明人 | 威廉斯·C·莫耶;小威廉姆·C·布鲁斯 |
| 分类号 | G01R31/3185 | 主分类号 | G01R31/3185 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 李德山 |
| 主权项 | 1.一种集成电路，包括：多个集成电路端子；多个可重用模块，每个具有未修正的状态机；以及控制逻辑，被耦合到每个未修正的状态机和多个集成电路端子，控制逻辑具有把集成电路端子的第一部分耦合到至少一个未修正的状态机的第一配置，控制逻辑被耦合来根据开关控制信号选择地接收第二结构，第二结构把集成电路端子的第二部分耦合到至少一个未修正的状态机。 | ||
| 地址 | 美国得克萨斯州 | ||