发明名称 器件封装及其制造和测试方法
摘要 本发明提供光电子器件封装。该组件包括基本基底,该基本基底具有在基本基底表面上的光电子器件安装区域以及盖子安装区域。光电子器件安装在光电子器件安装区域上。盖子安装在盖子安装区域上从而在基本基底和盖子之间形成密封容积。盖子具有光传输区域,该光传输区域适于沿着光路径传输给定波长的光到光电子器件上或者从光电子器件传输给定波长的光,其中盖子安装区域的至少一部分沿着光轴设置在基本基底表面下低于光的深轴度上。同时还提供晶片或者网格级光电子器件封装,晶片或网格级光电子器件封装盖子以及它们的形成方法,以及连接器化光电子器件。
申请公布号 CN1655342A 申请公布日期 2005.08.17
申请号 CN200410082073.6 申请日期 2004.09.15
申请人 罗姆和哈斯电子材料有限责任公司 发明人 戴维·W.·谢里尔;拉里·J.·拉斯内克;约翰·J.费希尔
分类号 H01L23/02;H01L23/12;H01L23/00;H01L21/56;H05K13/00 主分类号 H01L23/02
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 秦晨
主权项 1.一种光电子器件封装,包括:基本基底,该基本基底包括在该基本基底的表面上的光电子器件安装区域以及盖子安装区域;安装在光电子器件安装区域上的光电子器件;以及安装在盖子安装区域上的盖子,从而在基本基底和盖子之间形成封闭容积,其中光电子器件处于封闭容积内,并且其中盖子具有光传输区域,该光传输区域适于沿着光路径传输给定波长的光给光电子器件或者从光电子器件传输给定波长的光,其中盖子安装区域的至少一部分沿着光路径设置在基本基底表面之下至低于光路径的深度。
地址 美国马萨诸塞