| 发明名称 | 光学检测装置 | ||
| 摘要 | 一种光学检测装置，用于检测一检测窗(15)中一光束的强度以及检测由所述光束所传输的数据，其包含在一检测窗中的一第一检测二极管(25)与至少两个第二检测二极管(21a－24d)的矩阵。此外，提供一第一读出电路(35)，其以第一读出速度读出所述第一检测二极管以检测所述数据，以及提供一第二读出电路(30)其用于以第二读出速度读出所述的第二检测二极管而检测所述光束的所述强度，所述第二读出速度小于所述第一读出速度。本发明在检测窗中附加检测二极管的矩阵，使得传输数据的光束与所述检测窗的对准更有效且/或可更廉价地控制。 | ||
| 申请公布号 | CN1656540A | 申请公布日期 | 2005.08.17 |
| 申请号 | CN03811850.5 | 申请日期 | 2003.05.22 |
| 申请人 | 德商弗朗霍夫应用研究促进学会;德国汤森－伯兰特有限公司 | 发明人 | 霍格尔·霍夫曼;哈特穆特·利希特;因果·黑赫曼;维尔纳·布洛克赫德;阿尔明·克姆纳 |
| 分类号 | G11B7/00;G11B7/13;G11B7/22;G11B7/005;G11B7/09 | 主分类号 | G11B7/00 |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 任永武 |
| 主权项 | 1.一种光学检测装置，用于检测一检测窗(15；256)中的一光束的强度，且用于检测由所述光束所传输的数据，所述的光学检测装置包含：一第一检测二极管(25；251a-254d)，其位于所述检测窗(15；256)中；至少两第二检测二极管(21a-24d；201a-205e)的一矩阵，其位于所述检测窗(15；256)中；一第一读出电路(35；600)，连接至所述第一检测二极管(25；251a-254d)，用于以第一读出速度读出所述第一检测二极管(25；251a-254d)以检测所述数据；以及一第二读出电路(30)，连接至所述的第二检测二极管(21a-24d；201a-205e)，用于以低于所述第一读出速度的一第二读出速度读出所述的第二检测二极管(21a-24d；201a-205e)，以检测所述光束的所述强度。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||