发明名称 | SiGe异质结双极晶体管的制造方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种制造包含非选择性生长的SiGe(C)异质结双极晶体管的半导体器件的方法,此方法包括下列步骤:在衬底上形成绝缘层(12,40)以及在绝缘层(12,40)上提供包括导电层(14,42)的层状结构,通过导电层(14,42)腐蚀一个晶体管区域窗口(12,44),在晶体管区域窗口(22,44)的内壁上淀积SiGe基区层(24,46),以及在上表面上形成绝缘体(32,52)以便填充晶体管区域窗口,其中,在填充步骤之前,氮化物层(30,50)被形成作为晶体管区域窗口(22,44)的内层。 | ||
申请公布号 | CN1656609A | 申请公布日期 | 2005.08.17 |
申请号 | CN03812024.0 | 申请日期 | 2003.05.27 |
申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | P·H·C·马格尼;J·J·T·M·唐克斯 |
分类号 | H01L21/331 | 主分类号 | H01L21/331 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张雪梅;王忠忠 |
主权项 | 1.一种用非选择性外延生长方法来制造包含SiGe(C)异质结双极晶体管的半导体器件的方法,此方法包括下列步骤:在衬底上形成绝缘层以及在绝缘层上提供包括导电层的层结构,通过导电层腐蚀一晶体管区域窗口,在晶体管区域窗口内淀积SiGe基区层,并在上表面上形成绝缘体,以便填充晶体管区域窗口,其中,在填充步骤之前,氮化物层被形成作为晶体管区域窗口的内层。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |