发明名称 | 缺陷管理信息设定方法,记录方法及信息记录装置 | ||
摘要 | 本发明涉及缺陷管理信息设定方法,记录方法,程序及信息记录装置。在步骤S405中,在记录区域,设定缺陷管理信息,该缺陷管理信息包含关于不需要缺陷检测处理的特定区域的信息,上述缺陷检测处理用于检测上述缺陷区域。在步骤S423-S437,根据涉及记录对象区域的信息以及缺陷管理信息,决定是否对记录对象区域实行缺陷检测处理。于是,通过将AV数据区域设为特定区域,将PC数据区域设为缺陷管理区域,确保记录在AV数据区域的信息数据的连续性,确保记录在PC数据区域的信息数据的可靠性。能将互相用途不同的若干种类数据合适地记录在同一信息记录介质上。 | ||
申请公布号 | CN1655271A | 申请公布日期 | 2005.08.17 |
申请号 | CN200510005844.6 | 申请日期 | 2005.01.27 |
申请人 | 株式会社理光 | 发明人 | 佐佐木启之 |
分类号 | G11B20/10;G11B20/12 | 主分类号 | G11B20/10 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 杨梧;马高平 |
主权项 | 1.一种缺陷管理信息设定方法,用于设定缺陷管理信息,该缺陷管理信息用于管理信息记录介质的记录区域中的缺陷区域,其特征在于:包含用于设定缺陷管理信息的工序,上述缺陷管理信息包含以下信息:在上述记录区域,关于不需要缺陷检测处理的特定区域的信息,上述缺陷检测处理用于检测上述缺陷区域。 | ||
地址 | 日本东京都 |