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发明名称 Method for testing the refresh circuitry of a data memory
摘要
申请公布号 EP1122742(A3) 申请公布日期 2005.08.17
申请号 EP20010101749 申请日期 2001.01.25
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 RICHTER, DETLEV;SPIRKL, WOLFGANG, DR.
分类号 G11C29/02;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/02
代理机构 代理人
主权项
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