发明名称 瑕疵讯号侦测装置及方法
摘要 本发明侦测瑕疵讯号的方法包括有:预设一坑洞长度范围;输入一笔包含有数个长度不等坑洞的资料讯号;将资料讯号转换成NRZ讯号,分别计算每一笔该坑洞的坑洞长度;分别累计坑洞长度介于预设坑洞长度范围中的次数,以及坑洞长度超出预设坑洞长度范围外之的次数,当其中一个累计的次数达到对应的预设临限值时,触发一个瑕疵旗标讯号为逻辑高位准或是逻辑低位准。本发明亦提供一种侦测瑕疵讯号的装置。
申请公布号 TW200527383 申请公布日期 2005.08.16
申请号 TW093103410 申请日期 2004.02.12
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 欧阳世龙;赖义麟;胡培杰
分类号 G11B15/00 主分类号 G11B15/00
代理机构 代理人 陈达仁;谢德铭
主权项
地址 台北县新店市中正路533号8楼