发明名称 | 瑕疵讯号侦测装置及方法 | ||
摘要 | 本发明侦测瑕疵讯号的方法包括有:预设一坑洞长度范围;输入一笔包含有数个长度不等坑洞的资料讯号;将资料讯号转换成NRZ讯号,分别计算每一笔该坑洞的坑洞长度;分别累计坑洞长度介于预设坑洞长度范围中的次数,以及坑洞长度超出预设坑洞长度范围外之的次数,当其中一个累计的次数达到对应的预设临限值时,触发一个瑕疵旗标讯号为逻辑高位准或是逻辑低位准。本发明亦提供一种侦测瑕疵讯号的装置。 | ||
申请公布号 | TW200527383 | 申请公布日期 | 2005.08.16 |
申请号 | TW093103410 | 申请日期 | 2004.02.12 |
申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 欧阳世龙;赖义麟;胡培杰 |
分类号 | G11B15/00 | 主分类号 | G11B15/00 |
代理机构 | 代理人 | 陈达仁;谢德铭 | |
主权项 | |||
地址 | 台北县新店市中正路533号8楼 |