发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 本发明之目的是防止半导体装置所具有之性能和可靠度因为金属污染物质而降低。本发明之解决手段是利用氧化矽基板1和矽膜2形成SOI(绝缘层上覆矽)基板。使矽膜2之表面被氧化用来形成氧化矽膜3。多晶矽4和氮化矽膜5顺序地形成在氧化矽膜3上。然后,在区域R1形成沟渠7。在沟渠7埋入绝缘材料之氧化矽膜13。
申请公布号 TW200527587 申请公布日期 2005.08.16
申请号 TW093132342 申请日期 2004.10.26
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 内干夫;岩松俊明
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 赖经臣
主权项
地址 日本
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