发明名称 光阻层合体之形成方法
摘要 本发明系形成一种于利用真空紫外线区域光线之光微影制程,具有充分的防反射效果,而且于显像制程中具有充分的显像特性之光阻层合体。其为包含(I)于基板上形成光阻层(L1)之步骤、及(II)于光阻层(L1)上藉由涂布含有具亲水性基Y的含氟聚合物(A)之涂覆组成物形成防反射层(L2)之步骤的光阻层合体之形成方法,其特征为,含氟聚合物(A)含有来自具亲水性基Y的含氟乙烯性单体之结构单元,而且该含氟聚合物(A)为(i)亲水性基Y含有pKa为11以下的酸性OH基、(ii)氟含有率为50质量%以上、及(iii)含氟聚合物(A)100g中之亲水性基Y的莫耳数为0.14以上者。
申请公布号 TW200526692 申请公布日期 2005.08.16
申请号 TW093135671 申请日期 2004.11.19
申请人 大金工业股份有限公司 发明人 荒木孝之;高明天;佐藤数行;大桥美保子;岸川洋介
分类号 C08F20/22 主分类号 C08F20/22
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本