自动调整预凹剖析位准之方法与装置

摘要

本发明提供一种自动调整一预凹剖析位准(Pre–pit Slicing Level)之方法与相关装置。该预凹剖析位准可用来剖析一光学储存装置读取一光学储存碟片所产生之第一讯号以辨识该第一讯号当中之至少一预凹讯号。该方法具有：根据该第一讯号寻找一第一最大值；以及根据该第一最大值产生该预凹剖析位准，以使得该光学储存装置能于该第一讯号当中辨识该至少一预凹讯号。