用于具有串列化/解串列化埠之积体电路之测试系统

摘要

一种用于测试透过同步数位讯号及透过一个高速串列化／解串列化汇流排通讯之积体电路受测元件之系统系包含：一个串列化／解串列化介面电路，该串列化／解串列化介面电路系用于透过该串列化／解串列化汇流排与该受测元件通讯；及一个积体电路测试器，其系用于透过数位讯号与该受测元件及与该串列化／解串列化介面电路通讯。于该些数位讯号中之状态改变系与该积体电路测试器内之一个时脉讯号同步化。该串列化／解串列化介面电路系透过该些数位讯号之至少一个讯号接收由该积体电路测试器而来之指令，且藉由：透过使用适当的串列化／解串列化协定之该串列化／解串列化汇流排传送资料至该受测元件、藉由透过该串列化／解串列化汇流排接收及储存由该受测元件所传送之资料及藉由其后透过该些数位讯号之至少一个讯号转送该储存之资料至该积体电路测试器，而回应该些指令。