发明名称 Abgleich von Sensoren oder Messsystemen
摘要 In einem Verfahren zum Abgleich von kontinuierlichen Sensoren oder automatischen Messsystemen im Interstitium, bei dem die Steilheit der Messkurve sowie ein Standard-Offset (Standard-Achsenabschnitt) werksseitig vor dem Einsatz eingestellt sind, erfolgt eine Anpassung des Offsets während des Einsatzes in Form einer Ein-Punkt-Kalibrierung anhand einer Referenzmessung, indem der werksseitig eingestellte Offset entsprechend der Differenz zwischen dem vom Messsystem oder Sensor unter Berücksichtigung der standardmäßigen Steilheit ermittelten Wert und dem Referenzwert korrigiert wird.
申请公布号 DE102004004031(A1) 申请公布日期 2005.08.11
申请号 DE20041004031 申请日期 2004.01.27
申请人 DISETRONIC LICENSING AG, BURGDORF 发明人 BEYER, UWE;KRIEFTEWIRTH, MICHAEL;HAUETER, ULRICH
分类号 A61B5/00;C12Q1/00;G01N33/487;G01N33/543;(IPC1-7):G01N33/50;G01N33/66 主分类号 A61B5/00
代理机构 代理人
主权项
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