发明名称 УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ
摘要 <p>Использование: в контрольно-измерительной технике, а именно для измерения отклонения формы полированных поверхностей от номинальной при контроле формы оптических деталей. Задача: повышение оперативности измерений, при одновременном упрощении конструкции и уменьшении габаритов устройства. Сущность: устройство для измерения отклонения формы оптических поверхностей, содержит источник излучения, светоделительный элемент, состоящий из первой и второй прямоугольных призм, объектив коллиматора, интерферометр, состоящий из контролируемой детали и эталона, проекционную систему и систему проецирования автоколлимационных изображений, связанные с регистрирующим блоком. Светоделительный элемент дополнен третьей прямоугольной призмой большего размера, вклеенной катетами между гипотенузами первой и второй прямоугольных призм, образуя две светоделительные грани. Светоделительный элемент расположен на одной оси с объективом коллиматора, интерферометром и проекционной системой. Система проецирования автоколлимационных изображений расположена таким образом, что ее оптическая ось пересекает первую по ходу оптического луча устройства светоделительную грань.</p>
申请公布号 RU47095(U1) 申请公布日期 2005.08.10
申请号 RU20050106321U 申请日期 2005.02.28
申请人 发明人
分类号 G01B9/02 主分类号 G01B9/02
代理机构 代理人
主权项
地址