发明名称 半导体器件及其形成方法
摘要 薄膜半导体器件,例如TFT及其制造方法。TFT形成在绝缘衬底上。在该衬底上先形成基本上为非晶半导体涂层。再在该涂层上形成对激光辐射透明的保护涂层。用激光辐射照射该叠层,以改善半导体涂层的结晶度。然后,除去保护涂层使半导体涂层的表面露出。形成栅绝缘膜的涂层,随后形成栅电极。还涉及在绝缘衬底上制造半导体器件,例如TFT。形成主要由氮化铝组成第1涂层后,再形成主要由氧化硅组成的第2涂层,其上可制作半导器件。
申请公布号 CN1652347A 申请公布日期 2005.08.10
申请号 CN200510009188.7 申请日期 1993.07.06
申请人 株式会社半导体能源研究所 发明人 山崎舜平;张宏勇;竹村保彦
分类号 H01L27/15;H01L29/786;G02F1/136 主分类号 H01L27/15
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 张志醒
主权项 1.一种有源矩阵显示器件,包括:衬底;包括氧化硅的第一绝缘膜;包括氮化铝的、在第一绝缘膜上形成的第二绝缘膜;包括氧化硅的、在第二绝缘膜上形成的第三绝缘膜;在第三绝缘膜上形成的半导体膜;在半导体膜上形成的栅绝缘膜;以及在栅绝缘膜上形成的栅电极。
地址 日本神奈川县厚木市
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