发明名称 |
半导体器件及其形成方法 |
摘要 |
薄膜半导体器件,例如TFT及其制造方法。TFT形成在绝缘衬底上。在该衬底上先形成基本上为非晶半导体涂层。再在该涂层上形成对激光辐射透明的保护涂层。用激光辐射照射该叠层,以改善半导体涂层的结晶度。然后,除去保护涂层使半导体涂层的表面露出。形成栅绝缘膜的涂层,随后形成栅电极。还涉及在绝缘衬底上制造半导体器件,例如TFT。形成主要由氮化铝组成第1涂层后,再形成主要由氧化硅组成的第2涂层,其上可制作半导器件。 |
申请公布号 |
CN1652347A |
申请公布日期 |
2005.08.10 |
申请号 |
CN200510009188.7 |
申请日期 |
1993.07.06 |
申请人 |
株式会社半导体能源研究所 |
发明人 |
山崎舜平;张宏勇;竹村保彦 |
分类号 |
H01L27/15;H01L29/786;G02F1/136 |
主分类号 |
H01L27/15 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
张志醒 |
主权项 |
1.一种有源矩阵显示器件,包括:衬底;包括氧化硅的第一绝缘膜;包括氮化铝的、在第一绝缘膜上形成的第二绝缘膜;包括氧化硅的、在第二绝缘膜上形成的第三绝缘膜;在第三绝缘膜上形成的半导体膜;在半导体膜上形成的栅绝缘膜;以及在栅绝缘膜上形成的栅电极。 |
地址 |
日本神奈川县厚木市 |