发明名称 |
一种采用不合格品作为破坏性物理分析质量评价的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种采用不合格品作为破坏性物理分析质量评估的方法,该方法在确定可采用二次筛选不合格品为DPA样品上,进行一系列的非破坏性和破坏性试验项目,经分析判断,得到采用不合格品进行的DPA试验与采用合格品的DPA试验相同的DPA结论。该方法的步骤包括有:第一步:分析二次筛选不合格的DPA样品的不合格项目;第二步:进行DPA分析,与标准比照,得出各项DPA试验结论;第三步:分析各试验结论是否与样品为二次筛选不合格有关,并得出DPA总结论。在本发明中,虽然破坏性物理分析选取的被测对象是不合格品,但是不影响该不合格品对其他相关性能的检测。采用这种质量评估的方法在保证不影响DPA结论的基础上降低了破坏性物理分析的成本。 |
申请公布号 |
CN1651915A |
申请公布日期 |
2005.08.10 |
申请号 |
CN200510056871.6 |
申请日期 |
2005.03.28 |
申请人 |
北京航空航天大学 |
发明人 |
郑鹏洲;张素娟;田利平;许桂芳;胡睿;邹航 |
分类号 |
G01N33/00;G01N35/00;G01M19/00;G01D21/02 |
主分类号 |
G01N33/00 |
代理机构 |
北京永创新实专利事务所 |
代理人 |
周长琪 |
主权项 |
1、一种采用不合格品作为破坏性物理分析质量评估的方法,第一步:选择DPA样品二次筛选不合格器件用作DPA样品,并在DPA项目结果汇总表中登记其不合格项目事项;第二步:对样品进行DPA试验,并按标准判定,得出各DPA试验结果;第三步:分析各试验结论是否与样品为二次筛选不合格有关,并综合分析得出母体的DPA总结论。 |
地址 |
100083北京市海淀区学院路37号 |