| 摘要 |
la présente invention a trait à un procédé de détection d'une couche sur un substrat verrier, les propriétés de réflexion d'un rayonnement lumineux par ladite couche étant connues, notamment à son interface avec l'air, caractérisé en ce qu'on mesure successivement la réflexion d'un rayonnement lumineux par la surface à tester d'un substrat verrier, d'un vitrage monolithique, feuilleté ou multiple, puis par une autre surface, puis en ce qu'on compare les résultats afn de déterminer si ladite surface à tester est munie de ladite couche. L'invention concerne également un dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé, ainsi que l'application de ce procédé à différents vitrages.
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