发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 本发明之课题在于防止半导体晶片的崩裂。其解决手段为,其由:具有主面2b、配置在主面2b的复数焊垫2a、形成在主面2b上且可改变各个复数焊垫2a之配置的再配置配线2e、形成在主面2b上的保护膜2g以及绝缘膜的半导体晶片2;和各别连接于再配置配线2e,且以不同于复数焊垫2a之配置的配置所设的复数焊点凸块3所形成;在半导体晶片2之主面2b的周缘部,形成相对于主面2b而倾斜相连的斜切面2m,藉此就能防止崩裂。
申请公布号 TW200525679 申请公布日期 2005.08.01
申请号 TW093137226 申请日期 2004.12.02
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 高桥典之
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本
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