| 主权项 |
1.一种模组化探针装置,适于对一平面显示器之面板进行测试,该模组化探针装置包括:一基座;多个探针,每一该些探针具有一探针本体及两接触端,该些接触端分别延伸于该探针本体的相对端,且该探针本体上具有多个定位开口;以及多个连杆,每一该些连杆对应横跨于该些定位开口其中之一上,且每一该些连杆之两端固定于该基座上,以将该些探针连结并安装于该基座内。2.如申请专利范围第1项所述之模组化探针装置,其中该基座两对应端处分别具有多个固定槽,该些固定槽分别可供该些探针之该些接触端贯穿,且该些接触端透过该些固定槽外露于该基座外。3.如申请专利范围第1项所述之模组化探针装置,其中该些探针之该些定位开口的形状与该些连杆之断面形状相符合。4.如申请专利范围第1项所述之模组化探针装置,其中每一该些探针之该探针本体更具有多个缺口,用以增加该些探针的电气特性。5.如申请专利范围第4项所述之模组化探针装置,其中该些缺口位于该探针本体之相同侧。6.如申请专利范围第4项所述之模组化探针装置,其中该些缺口位于该探针本体之相异侧。7.如申请专利范围第4项所述之模组化探针装置,其中该些缺口位于邻近于该些接触端的位置上。8.如申请专利范围第1项所述之模组化探针装置,其中每一该些探针之该些接触端的宽度小于该探针本体的宽度。9.如申请专利范围第1项所述之模组化探针装置,其中该些探针为叶片式探针。10.一种探针,适于对一平面显示器之面板进行测试,该探针具有一探针本体及两接触端,该些接触端分别延伸于该探针本体的相对端,其特征在于该探针本体上开设有多个定位开口。11.如申请专利范围第10项所述之探针,其中该探针之该探针本体更具有多个缺口,用以增加该探针的电气特性。12.如申请专利范围第11项所述之探针,其中该些缺口位于该探针本体之相同侧。13.如申请专利范围第11项所述之探针,其中该些缺口位于该探针本体之相异侧。14.如申请专利范围第11项所述之探针,其中该些缺口位于邻近于该些接触端的位置上。15.如申请专利范围第10项所述之探针,其中该探针之该些接触端的宽度小于该探针本体的宽度。16.如申请专利范围第10项所述之探针,其中该探针为叶片式探针。图式简单说明:第1图,系为本新型模组化探针装置之一较佳实施例的外观图。第2图,系为本新型模组化探针装置之一较佳实施例的剖视图。第3图,系为本新型之探针之一较佳实施例的示意图。 |
