发明名称 | 半导体装置及其制造方法 | ||
摘要 | 本发明可增大焊盘部和外部端子的连接力,可靠地防止脱落,确保长期连接可靠性。本发明的半导体装置,在半导体元件1上形成使金属配线7a间绝缘的绝缘树脂层4,金属配线的端部与上述半导体元件上的电极2连接,金属配线的其他端部作为焊盘与外部端子9连接,除了上述焊盘的连接部分,被表层树脂层8被覆,其中,焊盘中至少一个焊盘部7b的上面设置突起10。从而,焊接连接时外部端子从周围捕捉焊盘部的突起,可可靠地连接外部端子和焊盘部。结果,可获得确保长期连接可靠性的半导体装置。 | ||
申请公布号 | CN1645604A | 申请公布日期 | 2005.07.27 |
申请号 | CN200510004755.X | 申请日期 | 2005.01.20 |
申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 戒能宪幸;家合政敏;桑原公仁;大谷克实 |
分类号 | H01L23/485;H01L21/60 | 主分类号 | H01L23/485 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 杨凯;叶恺东 |
主权项 | 1.一种半导体装置,在半导体元件上形成使金属配线间绝缘的绝缘树脂层,上述金属配线的端部与上述半导体元件上的电极连接,上述金属配线的其他端部作为焊盘与外部端子连接,除了上述焊盘的连接部分,被表层树脂层被覆,其中,上述焊盘中至少一个焊盘部的上面设置突起。 | ||
地址 | 日本大阪府 |