发明名称 | 轴类零件弯曲变形面阵CCD测量方法及装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种零件弯曲变形的测量方法,尤其是轴类零件弯曲变形面阵CCD测量方法及其装置。通过至少一个面阵CCD采集轴类零件的图像数据,所采集的图像数据传送到I/O卡后,再输入工控机,然后经工控机对所述图像数据进行处理后,得到该轴类零件形变参数。该装置包括图像采集及处理系统、被测轴类零件转动控制系统组成;图像采集及处理系统包括面阵CCD、背光源、I/O卡、工控机;被测轴类零件转动控制系统包括变速箱、步进电机、编码器。该方法测量轴类零件弯曲变形精度高,测量速度快,测量装置简单,所需零部件均可在市面上购买到,整个装置易于实现。 | ||
申请公布号 | CN1645041A | 申请公布日期 | 2005.07.27 |
申请号 | CN200510032654.3 | 申请日期 | 2005.01.04 |
申请人 | 华南理工大学 | 发明人 | 吴上生 |
分类号 | G01B11/16;G01B21/32 | 主分类号 | G01B11/16 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 1、一种轴类零件弯曲变形面阵CCD测量方法,其特征在于:所述轴类零件的图像数据通过至少一个面阵CCD采集,所采集的图像数据传送到I/O卡后,输入工控机,然后经工控机对所述图像数据进行处理后,输出所述轴类零件形变参数。 | ||
地址 | 510640广东省广州市天河区五山路381号 |