发明名称 Método de ajuste da resposta de escala de cinza de um scanner e processo de fabricação em que um produto fabricado é escaneado por uma pluralidade de scanners de escala de cinza
摘要 "MéTODO DE AJUSTE DA RESPOSTA DE ESCALA DE CINZA DE UM SCANNER E PROCESSO DE FABRICAçãO EM QUE UM PRODUTO FABRICADO é ESCANEADO POR UMA PLURALIDADE DE SCANNERS DE ESCALA DE CINZA". A presente invenção provê um método de ajuste da resposta de escala de cinza de um primeiro scanner e de um segundo scanner, de modo que as duas respostas de escala de cinza mais proximamente combinem uma com a outra. O método inclui a etapa de provisão de um primeiro scanner que tem uma resposta de escala de cinza quando do escaneamento de um alvo. Também, um segundo scanner é provido, que tem uma resposta de escala de cinza quando do scanner do alvo que é ajustável. A resposta de escala de cinza do primeiro scanner é medida quando do escaneamento do alvo. Também, a resposta de escala de cinza do segundo scanner é medida quando do escaneamento do alvo. Adicionalmente, a transportador de cinta do segundo scanner é ajustada de modo a combinar mais proximamente com a resposta de escala de cinza do primeiro scanner.
申请公布号 BR0314225(A) 申请公布日期 2005.07.26
申请号 BR2003PI14225 申请日期 2003.09.05
申请人 KIMBERLY-CLARK WORLDWIDE, INC. 发明人 JIANCHU JIA
分类号 H04N1/407;(IPC1-7):H04N1/407;B41F33/00;H04N1/40 主分类号 H04N1/407
代理机构 代理人
主权项
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