| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR MEMORY TEST DEVICE FOR ACCURATELY DETECTING LOCATION OF DEFECTIVE MEMORY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100505587(B1) |
申请公布日期 |
2005.07.26 |
| 申请号 |
KR19980000845 |
申请日期 |
1998.01.14 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
PARK, HUI MIN |
| 分类号 |
G11C29/12;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G11C29/12 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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