发明名称 |
Prüfvorrichtung und Prüfverfahren |
摘要 |
Eine Prüfvorrichtung (100) zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung (10) enthält eine Hinzufügungsvorrichtung (104) für deterministisches Zittern zum Hinzufügen von deterministischem Zittern zu einem gegebenen Eingangssignal, ohne dass eine Amplitudenveränderungskomponente auftritt, und zum Zuführen des mit dem deterministischen Zittern versehenen Eingangssignals zu der elektronischen Vorrichtung, eine Zittergrößen-Steuervorrichtung (106) zum Steuern der Größe des deterministischen Zitterns, das von der Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zittern hinzuzufügen ist, und eine Beurteilungsvorrichtung (108) zum Beurteilen der Qualität der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung als Antwort auf das Eingangssignal auszugebenden Ausgangssignals.
|
申请公布号 |
DE102004059937(A1) |
申请公布日期 |
2005.07.21 |
申请号 |
DE200410059937 |
申请日期 |
2004.12.09 |
申请人 |
ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
ISHIDA, MASAHIRO;YAMAGUCHI, TAKAHIRO;SOMA, MANI |
分类号 |
G01R29/02;G01R31/28;G01R31/3167;G01R31/317;G01R31/319;G01R31/3193;H04Q1/20;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/316 |
主分类号 |
G01R29/02 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|