发明名称 Prüfvorrichtung und Prüfverfahren
摘要 Eine Prüfvorrichtung (100) zum Prüfen einer elektronischen Vorrichtung (10) enthält eine Hinzufügungsvorrichtung (104) für deterministisches Zittern zum Hinzufügen von deterministischem Zittern zu einem gegebenen Eingangssignal, ohne dass eine Amplitudenveränderungskomponente auftritt, und zum Zuführen des mit dem deterministischen Zittern versehenen Eingangssignals zu der elektronischen Vorrichtung, eine Zittergrößen-Steuervorrichtung (106) zum Steuern der Größe des deterministischen Zitterns, das von der Hinzufügungsvorrichtung für deterministisches Zittern hinzuzufügen ist, und eine Beurteilungsvorrichtung (108) zum Beurteilen der Qualität der elektronischen Vorrichtung auf der Grundlage eines von der elektronischen Vorrichtung als Antwort auf das Eingangssignal auszugebenden Ausgangssignals.
申请公布号 DE102004059937(A1) 申请公布日期 2005.07.21
申请号 DE200410059937 申请日期 2004.12.09
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 ISHIDA, MASAHIRO;YAMAGUCHI, TAKAHIRO;SOMA, MANI
分类号 G01R29/02;G01R31/28;G01R31/3167;G01R31/317;G01R31/319;G01R31/3193;H04Q1/20;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/316 主分类号 G01R29/02
代理机构 代理人
主权项
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