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Die Erfindung betrifft einen Testaufbau zum Testen einer integrierten Schaltung mit einer Testereinheit, die eine oder mehrere Verbindungsleitungen aufweist, um die integrierte Schaltung anzuschließen, wobei zum Testen ein Testsignal und/oder eine Versorgungsspannung an die integrierte Schaltung anlegbar ist, wobei eine Störeinheit mit mindestens einer der Verbindungsleitungen verbunden ist, die ein Störsignal an die Verbindungsleitung anlegt, um die Qualität des Testsignals und/oder die Qualität der Versorgungsspannung zu reduzieren.
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