| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR TEST DEVICE FOR DETECTING FAIL OF EMBEDDED MEMORY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR20050075504(A) |
申请公布日期 |
2005.07.21 |
| 申请号 |
KR20040002998 |
申请日期 |
2004.01.15 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
LEE, HOI JIN |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C29/00;G11C29/02;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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