| 发明名称 |
PERFORMANCE TEST METHOD FOR ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER IN IMAGE SENSOR |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR20050075513(A) |
申请公布日期 |
2005.07.21 |
| 申请号 |
KR20040003010 |
申请日期 |
2004.01.15 |
| 申请人 |
MAGNACHIP SEMICONDUCTOR, LTD. |
发明人 |
KIM, NAM RYEOL |
| 分类号 |
H01L27/146;H01L31/10;(IPC1-7):H01L27/146 |
主分类号 |
H01L27/146 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
