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发明名称 NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TEST METHOD
摘要
申请公布号 KR100500346(B1) 申请公布日期 2005.07.18
申请号 KR20030047291 申请日期 2003.07.11
申请人 发明人
分类号 G11C16/00;G11C16/02;G11C29/44;G11C29/50;G11C29/56;(IPC1-7):G11C16/00 主分类号 G11C16/00
代理机构 代理人
主权项
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