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发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY MODULE AND METHOD OF TESTING OPERATING MARGIN THEREOF, AND SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS
摘要
申请公布号 KR20050073902(A) 申请公布日期 2005.07.18
申请号 KR20040002020 申请日期 2004.01.12
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 LEE, HI CHOON;CHOI, HYE IN
分类号 G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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