PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE PRODUCED BY FOCUSED ION BEAM MACHINING,申请号KR20027009162-传众专利搜索

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发明名称	PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE PRODUCED BY FOCUSED ION BEAM MACHINING
摘要
申请公布号	KR100501506(B1)	申请公布日期	2005.07.18
申请号	KR20027009162	申请日期	2002.07.16
申请人		发明人
分类号	(IPC1-7):G01N13/16	主分类号	(IPC1-7):G01N13/16
代理机构		代理人
主权项
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