发明名称 | 元件测试分选机 | ||
摘要 | 本发明系提供一种元件测试分选机,包括:振动入料组,具有可容纳待测试元件分片之料斗,并于该料斗一端延伸一导料管,该导料管末端形成定位架;转盘,其周围环设有数沟槽洞,藉以依序接收及输送上述定位架之每一待测试元件;测试系统机构,系依行进程序逐一探测每一沟槽洞之待测试元件,并执行既定之射频测试校验项目及储存校验修正值的比对分析后,再根据测试项目与测试值之预设属性进行分类;及收料管架,具有复数组收纳区,以分别收纳经由分类后之已测试元件者。 | ||
申请公布号 | TW200523043 | 申请公布日期 | 2005.07.16 |
申请号 | TW093100081 | 申请日期 | 2004.01.02 |
申请人 | 达方电子股份有限公司 | 发明人 | 高敏 |
分类号 | B07B13/00 | 主分类号 | B07B13/00 |
代理机构 | 代理人 | 林宜宏 | |
主权项 | |||
地址 | 桃园县龟山乡枫树村1邻6号 |