发明名称 元件测试分选机
摘要 本发明系提供一种元件测试分选机,包括:振动入料组,具有可容纳待测试元件分片之料斗,并于该料斗一端延伸一导料管,该导料管末端形成定位架;转盘,其周围环设有数沟槽洞,藉以依序接收及输送上述定位架之每一待测试元件;测试系统机构,系依行进程序逐一探测每一沟槽洞之待测试元件,并执行既定之射频测试校验项目及储存校验修正值的比对分析后,再根据测试项目与测试值之预设属性进行分类;及收料管架,具有复数组收纳区,以分别收纳经由分类后之已测试元件者。
申请公布号 TW200523043 申请公布日期 2005.07.16
申请号 TW093100081 申请日期 2004.01.02
申请人 达方电子股份有限公司 发明人 高敏
分类号 B07B13/00 主分类号 B07B13/00
代理机构 代理人 林宜宏
主权项
地址 桃园县龟山乡枫树村1邻6号