发明名称 可避免栓锁效应之积体电路及避免内部电路发生栓锁效应的方法
摘要 一种可避免栓锁效应之积体电路,包括一内部电路,设置于一基板上,含有至少一寄生SCR结构;至少一ESD保护元件及至少一主动区,设置于基板上,耦接一接合垫;至少一第一分流二极体,具有一阳极耦接该接合垫,以及一阴极耦接一第一电压源;至少一第二分流二极体,具有一阴极耦接该接合垫,以及一阳极耦接一第二电压源,其中第一、第二分流二极体与内部电路及连接到接合垫之ESD保护元件和主动区之间的距离不小于150微米;以及一防护环,用以环绕第一、第二分流二极体。
申请公布号 TW200524240 申请公布日期 2005.07.16
申请号 TW093100327 申请日期 2004.01.07
申请人 华邦电子股份有限公司 发明人 林奕成
分类号 H02H3/22;H01L23/62 主分类号 H02H3/22
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区研新三路4号