发明名称 | 可避免栓锁效应之积体电路及避免内部电路发生栓锁效应的方法 | ||
摘要 | 一种可避免栓锁效应之积体电路,包括一内部电路,设置于一基板上,含有至少一寄生SCR结构;至少一ESD保护元件及至少一主动区,设置于基板上,耦接一接合垫;至少一第一分流二极体,具有一阳极耦接该接合垫,以及一阴极耦接一第一电压源;至少一第二分流二极体,具有一阴极耦接该接合垫,以及一阳极耦接一第二电压源,其中第一、第二分流二极体与内部电路及连接到接合垫之ESD保护元件和主动区之间的距离不小于150微米;以及一防护环,用以环绕第一、第二分流二极体。 | ||
申请公布号 | TW200524240 | 申请公布日期 | 2005.07.16 |
申请号 | TW093100327 | 申请日期 | 2004.01.07 |
申请人 | 华邦电子股份有限公司 | 发明人 | 林奕成 |
分类号 | H02H3/22;H01L23/62 | 主分类号 | H02H3/22 |
代理机构 | 代理人 | 洪澄文;颜锦顺 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区研新三路4号 |