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发明名称 APARAT UND VERFAHREN ZUR IDDQ-MESSUNG
摘要
申请公布号 EP1552318(A1) 申请公布日期 2005.07.13
申请号 EP20030795111 申请日期 2003.08.06
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 VAN HEES, JOHANNES, L., H.
分类号 G01R31/26;G01R31/30;G01R31/3173;(IPC1-7):G01R31/30;G01R31/317 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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