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发明名称 REDUCED CHIP TESTING SCHEME AT WAFER LEVEL
摘要
申请公布号 EP1552317(A1) 申请公布日期 2005.07.13
申请号 EP20030795106 申请日期 2003.08.04
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 CIRKEL, CORNELIS, O.;SCHEURWATER, PIETER, C., N.
分类号 H01L21/66;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
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