| 主权项 |
1.一种可适用多重磁碟阵列系统之阵列配置检验方法,该磁碟阵列系统中,各阵列所属之磁碟机储存有一阵列配置,该阵列配置至少包含有一阵列磁碟数目、一磁碟顺序与功能及同一磁碟阵列中各磁碟机之序号校验和,其配置之检验方法主要系包含有下列步骤:读取阵列配置资料;取得阵列磁碟数目;读取同一磁碟阵列中各磁碟机之序号校验和;及比对阵列磁碟数目与该同一磁碟阵列中各磁碟机之序号校验和所载之磁碟机数目。2.如申请专利范围第1项所述之检验方法,其中该同一磁碟阵列中各磁碟机之序号校验和,系将各磁碟阵列中所属磁碟机之序号校验和依其顺序与功能排列者。3.如申请专利范围第2项所述之检验方法,尚可包含有下列步骤:取得阵列配置中之磁碟顺序与功能资料;及比对该磁碟顺序与功能资料与该同一磁碟阵列中各磁碟机之序号校验和之顺序。4.如申请专利范围第1项所述之检验方法,其中各磁碟机之序号校验和系利用各磁碟机之型号、序列号及轫体版本运算而得者。5.如申请专利范围第1项所述之检验方法,其中该阵列配置尚包含有一阵列类型,而其阵列磁碟数目之记录方法系与阵列类型相关联者。6.如申请专利范围第5项所述之检验方法,其中该取得阵列磁碟数目之方法系包含有下列步骤:读取阵列类型;读取该阵列类型相关之阵列磁碟数目记录;及计算该阵列所包含之磁碟机之数目。7.如申请专利范围第3项所述之检验方法,其中该阵列配置尚包含有一阵列类型,而其磁碟顺序与功能之记录方法系与阵列类型相关联者。8.如申请专利范围第7项所述之检验方法,其中该取得阵列配置中之磁碟顺序与功能资料之方法系包含有下列步骤:读取阵列类型;读取该阵列类型相关之磁碟顺序与功能记录;及演算取得各磁碟之顺序及功能。9.一种可适用多重磁碟阵列系统之阵列配置检验方法,该磁碟阵列系统中,各阵列所属之磁碟机储存有一阵列配置,该阵列配置至少包含有一阵列磁碟数目、一磁碟顺序与功能及同一磁碟阵列中各磁碟机之序号校验和,其中该同一磁碟阵列中各磁碟机之序号校验和系将各磁碟阵列中所属磁碟机之序号校验和依其顺序与功能排列者,其配置之检验方法主要系包含有下列步骤:读取阵列配置资料;取得磁碟顺序与功能;读取同一磁碟阵列中各磁碟机之序号校验和;及比对该磁碟顺序与功能与该同一磁碟阵列中各磁碟机之序号校验和所载该磁碟机序号校验和之位置。10.如申请专利范围第9项所述之检验方法,尚包含有下列步骤:取得阵列磁碟数目;及比对该阵列磁碟数目与该同一磁碟阵列中各磁碟机之序号校验和所载之磁碟机数目。11.如申请专利范围第9项所述之检验方法,其中各磁碟机之序号校验和系利用各磁碟机之型号、序列号及轫体版本运算而得者。12.如申请专利范围第9项所述之检验方法,其中阵列配置尚包含有一阵列类型,而其磁碟顺序与功能之记录方法系与阵列类型相关联者。13.如申请专利范围第12项所述之检验方法,其中该取得磁碟顺序与功能之方法系包含有下列步骤:读取阵列类型;读取该阵列类型相关之磁碟顺序与功能记录;及演算取得各磁碟于该磁碟阵列中之顺序与功能。14.如申请专利范围第9项所述之检验方法,其中该阵列配置尚包含有一阵列类型,而其阵列磁碟数目之记录方法系与阵列类型相关联者。15.如申请专利范围第14项所述之检验方法,其中该取得阵列配置中该阵列所包含之磁碟机数目之方法系包含有下列步骤:读取阵列类型;读取该阵列类型相关之阵列磁碟数目记录;及计算该阵列所包含之磁碟机之数目。图式简单说明:第1图:系本发明一较佳实施例可运用之磁碟管理系统方块图;第2图:系磁碟管理系统阵列配置之说明图;第3图:系磁碟管理系统阵列资讯之说明图;第4图:系磁碟管理系统磁碟资讯之说明图;及第5图:系本发明一较佳实施例之流程图。 |
