| 发明名称 |
EMBEDDED MCU FOR HIGH SPEED TESTING BY MEMORY EMULATION MODULE AND TEST METHOD THEREOF |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR20050071963(A) |
申请公布日期 |
2005.07.08 |
| 申请号 |
KR20040000366 |
申请日期 |
2004.01.05 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
PARK, JIN KWON |
| 分类号 |
G06F11/22;G01R31/28;G06F11/00;G06F11/26;G11C29/00;G11C29/48;(IPC1-7):G06F11/22 |
主分类号 |
G06F11/22 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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