发明名称 PROBE CARD OF A SEMICONDUCTOR TEST DEVICE
摘要
申请公布号 KR20050067761(A) 申请公布日期 2005.07.05
申请号 KR20030098775 申请日期 2003.12.29
申请人 DONGBUANAM SEMICONDUCTOR INC. 发明人 CHOI, BYUNG MOON
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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