发明名称 乾式蚀刻方法及磁性记忆装置之制造方法
摘要 本发明之目的在于提供一种制程,其可良好地蚀刻用于MRAM之栓层,特别是PtMn。本发明系关于一种乾式蚀刻方法以及将该乾式蚀刻方法适用于栓层加工之MRAM的制造方法,上述乾式蚀刻方法以使用脉冲电浆乾式蚀刻含有铂以及/或锰之层为特征。该MRAM含有记忆部,该记忆部包含藉由叠层磁化方向固定之磁化固定层、通道障壁层、以及可变化磁化方向之磁性层而成的通道磁阻效果元件构成之磁性记忆元件。
申请公布号 TW200522199 申请公布日期 2005.07.01
申请号 TW093125895 申请日期 2004.08.27
申请人 新力股份有限公司;寒川诚二 发明人 白岩利章;辰巳哲也;寒川诚二
分类号 H01L21/3065 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本
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